絕緣等材料表面電阻率測(cè)試儀,本儀器主要用于測(cè)試絕緣材料的絕緣電阻、體積電阻及表面電阻值,本儀器是一臺(tái)通用試驗(yàn)儀器,通過(guò)選配不同的測(cè)試電極,可以滿足和測(cè)試所有不同類型的絕緣材料,如:粉末、片材、薄膜和液...
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絕緣等材料表面電阻率測(cè)試儀,本儀器主要用于測(cè)試絕緣材料的絕緣電阻、體積電阻及表面電阻值,本儀器是一臺(tái)通用試驗(yàn)儀器,通過(guò)選配不同的測(cè)試電極,可以滿足和測(cè)試所有不同類型的絕緣材料,如:粉末、片材、薄膜和液...
查看詳情粉末特性測(cè)試儀是一種多功能的粉體綜合特性測(cè)試儀器。其測(cè)試項(xiàng)目包括休止角、崩潰角、平板角、差角、分散度、松裝密度、振實(shí)密度、壓縮度、空隙率、凝集度、均齊度、流動(dòng)性指數(shù)、噴流性指數(shù)等參數(shù)。這些參數(shù)對(duì)粉體產(chǎn)...
查看詳情多點(diǎn)BET比表面及微孔分析儀借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?,吸附、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分...
查看詳情全自動(dòng)真實(shí)密度分析儀-應(yīng)用阿基米德原理氣體膨脹置換法,利用小分子直徑的惰性氣體(He)在一定條件下的玻義爾-馬略特定律(PV=nRT),通過(guò)測(cè)定由于樣品測(cè)試腔放入樣品所引起的樣品測(cè)試腔氣體容量的減少來(lái)...
查看詳情真實(shí)密度儀-應(yīng)用阿基米德原理—?dú)怏w膨脹置換法,利用小分子直徑的惰性氣體(He)在一定條件下的玻義爾-馬略特定律(PV=nRT),通過(guò)測(cè)定由于樣品測(cè)試腔放入樣品所引起的樣品測(cè)試腔氣體容量的減少來(lái)精確測(cè)定...
查看詳情炭紙雙極板四探針低阻測(cè)量?jī)x,本儀器主要應(yīng)用于測(cè)試質(zhì)子交換膜燃料電池用炭紙、及雙極板電阻特性測(cè)試專用儀器。本儀器依據(jù)用戶的實(shí)際測(cè)試需求研發(fā),為用戶降低最大的采購(gòu)成本,本儀器既可以測(cè)試垂直方向電阻率,也可...
查看詳情炭紙雙極板低阻測(cè)量測(cè)試儀,本儀器主要應(yīng)用于測(cè)試質(zhì)子交換膜燃料電池用炭紙、及雙極板電阻特性測(cè)試專用儀器。本儀器依據(jù)用戶的實(shí)際測(cè)試需求研發(fā),為用戶降低最大的采購(gòu)成本,本儀器既可以測(cè)試垂直方向電阻率,也可以...
查看詳情自動(dòng)銀粉比表面與孔徑分析儀,吸附、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以...
查看詳情自動(dòng)硅粉比表面及微孔分析儀,吸附、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以...
查看詳情多功能比表面與孔徑分析儀,吸附、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及...
查看詳情多功能比表面及微孔分析儀,吸附、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及...
查看詳情智能新款比表面與孔徑分析儀,吸附、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以...
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